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        【國儀FIB秀】納米微柱樣品制備

        更新時間:2024-10-30      點擊次數(shù):942
        國儀FIB秀

        CIQTEK

        聚焦離子束電子束雙束顯微鏡可用于大規(guī)模集成電路的缺陷診斷、修補、離子注入、原位加工、掩膜版修理、刻蝕,集成電路設計修改,量子芯片器件制作,無掩膜加工,納米結構制作,復雜納米圖形加工,材料的三維成像與分析、超靈敏表面分析、表面改性,以及透射電鏡樣品制備等方面。應用需求廣泛,不可或缺。

        目前,國儀量子推出的聚焦離子束電子束雙束顯微鏡DB500擁有自主可控的場發(fā)射電子鏡筒和“承影”離子鏡筒,是一款優(yōu)雅全能的納米分析和制樣工具。高壓隧道技術(SuperTunnel)、低像差無漏磁物鏡設計,低電壓高分辨率成像,保證納米分析能力。“承影”離子鏡筒采用液態(tài)鎵離子源,擁有高穩(wěn)定、高質量的離子束流,保證納米加工能力。集成式的納米機械手、氣體注入器,擁有24個擴展口,配置全面,自主可控,擴展性強,為您打造全能納米分析和加工中心。

        為向用戶展示DB500的卓越性能,國儀量子電鏡團隊特別策劃了《國儀FIB秀》專題節(jié)目,將通過視頻呈現(xiàn)這臺尖端設備在材料科學、半導體工業(yè)、生物醫(yī)學等領域的廣泛應用。觀眾將了解DB500的工作原理,欣賞其拍攝的驚艷微觀圖像,并深入探索這一技術對科研和工業(yè)發(fā)展的重大意義。

         

         

         

        納米微柱樣品制備


        成功制備納米微柱樣品,展示了國儀量子雙束電鏡在納米尺度加工和分析方面的強大功能。產(chǎn)品性能可為納米力學測試的客戶提供精確、高效、多模態(tài)的測試支持,將助力客戶在材料科學研究中取得突破性進展。

        【國儀FIB秀】納米微柱樣品制備

         

         

         

         

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